本文標題："偏光顯微鏡可用應用來測量反射率-測量光學儀器"
發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
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偏光顯微鏡可用應用來測量反射率-測量光學儀器
在測量顯微鏡中可使用偏光鏡檢術觀測法
偏光顯微鏡是專門判斷物質細微構成的光學性能質量的一種測量
儀器，一般特有雙折射的物質，在偏光顯微鏡下可以清晰的區別開來，
然而這些物體也能用染色發進行觀測，但是有一些也不可以，則一定
要采用偏光顯微鏡。
偏光顯微鏡的特點就是將普通光變換為偏光進行鏡檢的方式，去
判定一些物質是單折射還是雙折射性。雙折射性是晶體的主要的特別
性能，所以偏光顯微鏡廣泛的適用于礦物?；瘜W等領域。
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