本文標(biāo)題："光學(xué)測(cè)距儀是以幾何光學(xué)原理進(jìn)行量距-測(cè)量顯微鏡"

光學(xué)測(cè)距儀是以幾何光學(xué)原理進(jìn)行量距-測(cè)量顯微鏡

    光學(xué)測(cè)距

    光學(xué)測(cè)距指的是以幾何光學(xué)原理進(jìn)行量距的儀器，例如在經(jīng)緯儀
中用望遠(yuǎn)鏡的上下絲測(cè)距就是其中之一。光學(xué)測(cè)距儀可能是經(jīng)緯儀中
的一個(gè)零部件或附件，也可能是專門的測(cè)距儀器。由于用視絲測(cè)距法
精度很低，目前光學(xué)測(cè)距儀主要應(yīng)用雙象測(cè)距原理

    與直接測(cè)距法相比，光學(xué)測(cè)距的優(yōu)點(diǎn)是在條件困難的山區(qū)、水面
或有危險(xiǎn)的地段特別實(shí)用，它測(cè)量速度快，精度也可滿足地形測(cè)量或
低等控制測(cè)量的要求，它常用于勘測(cè)、地形測(cè)量和某些工程測(cè)量，

    量邊（測(cè)距）、測(cè)角、測(cè)高差是測(cè)量工作中的基本工作，邊長(zhǎng)數(shù)
據(jù)是測(cè)量工作中最基本的原始數(shù)據(jù)之一，量距的長(zhǎng)度及精度對(duì)整個(gè)測(cè)
量工作的速度及精度影響極大。

    因此，隨著測(cè)量工作的發(fā)展，量邊測(cè)距的儀器也在不斷的發(fā)展。

    根據(jù)測(cè)量地點(diǎn)的條件不同和測(cè)量精度要求不同，可以選用各種不
同的測(cè)距儀器。測(cè)距儀器按測(cè)距原理不同大致可分為直接測(cè)距、電磁
波測(cè)距、光學(xué)測(cè)距三種。
 

后一篇文章：可用偏光顯微鏡來(lái)簡(jiǎn)便的測(cè)量礦物樣品的折光率 »
前一篇文章：« 顯微光度計(jì)可以用來(lái)快速的測(cè)量金屬礦物的反射率

tags:技術(shù),材料學(xué),金屬,金相顯微鏡,上海精密儀器,

光學(xué)測(cè)距儀是以幾何光學(xué)原理進(jìn)行量距-測(cè)量顯微鏡,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

本頁(yè)地址：/gxnews/1518.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/