本文標題："工業(yè)生產(chǎn)中大多數(shù)的玻璃表面涂層為結(jié)晶體檢測顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
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工業(yè)生產(chǎn)中大多數(shù)的玻璃表面涂層為結(jié)晶體檢測顯微鏡
因為這種濃度梯度很可能與結(jié)構(gòu)的變化密度聯(lián)系，在任何情況
下用電子顯微鏡檢查對可靠地說明這些問題都是十分重要的，在
離子刻蝕過程中用REM觀察表面的變化有助于了解暴露出來的結(jié)
構(gòu)，用“掃描的離子束”進行刻蝕加上檢測裝置并與REM結(jié)合漸
獲得敢很好的效果。
結(jié)晶表面層
工業(yè)生產(chǎn)中大多數(shù)的玻璃表面涂層為結(jié)晶體，用電子顯微鏡檢
查的目的是為了閥明涂層后的玻璃性質(zhì)以及性質(zhì)的變化與涂層的
構(gòu)造或微細結(jié)構(gòu)及其變化之間的關(guān)系，這里值得注意的是在涂層
中可能形成的梯度，通過擴散或相對擴散而影響下層玻璃的組成
以及關(guān)系到結(jié)晶結(jié)構(gòu)和折射率等，此外，涂層的顯微外形與電導(dǎo)
率之間也可能有一定的聯(lián)系，涂層中晶體的微細結(jié)構(gòu)也可能是有
重要意義，下面還將介紹一些資料，涂層中晶體的微細結(jié)構(gòu)也可
能是有重要意義，這些研究工作也還聯(lián)系到另一些物質(zhì)及化學(xué)性
質(zhì)。
涂層結(jié)構(gòu)、涂層中的濃度梯度、微細結(jié)構(gòu)及元素分析采用印模
法進行合適的試樣制備可獲得關(guān)于表面層的構(gòu)造，厚度以及其他
結(jié)構(gòu)細節(jié)很有價值的資料，在反差及分辨能力足夠的條件下同，
還可用掃描電子顯微鏡檢查層狀中的橫向裂紋，通常是將層狀系
統(tǒng)制成可透射的極薄橫切片而得到范圍極為廣泛的檢查結(jié)果，只
是試樣制備相當(dāng)費事，與對濃度分布的分析相結(jié)合可以獲得關(guān)于
涂層濃度梯度或非均一性的知識。
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