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本文標題："半導體樣品實驗覆層截面分析金相顯微鏡"

發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------ 人瀏覽過-----時間：2018-2-23 16:27:46

半導體樣品實驗覆層截面分析金相顯微鏡

半導體覆層故障

本故障指在線圈沒有振動的情況下槽內定子線棒或線圈半導體

覆層發(fā)生劣化。該故障機理只發(fā)生在摻碳漆或膠帶作為半導體層的

成型線圈和線棒上；并且通常發(fā)生在額定6kV及以上電壓等級的常

規(guī)電機上。這種故障過程也發(fā)生在由PWM電壓源逆變器供電的定子

上，起因源自逆變器驅動裝置產生的很高的電壓脈沖

。因此額定電壓在3kV及以上的由逆變器饋電的電動機(一般也

總是帶有半導體覆層)也存在此故障風險。由于故障過程與局部放

電有關，該問題更容易發(fā)生在空氣冷卻電機上。運行在高海拔(大

于1000m)地區(qū)的電動機和發(fā)電機，由于大氣壓力低，空氣的擊穿電

壓也較低，因此更可能遇到這類問題。另外，經驗表明，具有漆基

半導體涂覆層的線圈和線棒，比采用膠帶基半導體包覆層的線圈和

線棒更容易發(fā)生這種劣化機理，盡管注意保持漆基中碳粉顆粒分布

均勻的情況下可減緩該故障過程。

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