本文標題："顯微鏡分析切片技術(shù)-復型品用TEM進行檢測"
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顯微鏡分析切片技術(shù)-復型品用TEM進行檢測
切片技術(shù)一個替代方法是制備樣品表面碳一鉑復型品的方法。制備復型品時，將鉑以
20°角噴射在樣品表面(在真空狀態(tài)下通過耐熱蒸發(fā)器連接在碳弧.上，或用離子濺射在鉑
靶上)，然后碳層直接從表面蒸發(fā)掉(碳弧或耐熱性碳纖維)。
碳形成一個連接層，而金屬鉑可以根據(jù)樣品的表面波動形成圖像。樣品可以從復型品中溶
解掉(有時不容易做到)，然后復型品用TEM進行檢測。復型技術(shù)會產(chǎn)生熱量，所以在通常
情況下，僅適用于固體和熱穩(wěn)定性樣品。不耐熱的樣品可以用冷凍法復制，或在復制過程
中保持冷凍狀態(tài)，這些方法與冷凍斷裂和冷凍蝕刻技術(shù)有關(guān)
表面復型技術(shù)為超薄切片提供了一種有效方法，并可以避免化學固定和乙醉脫水的影
響。因此，可以采用此方法從超薄切片中觀測重要發(fā)現(xiàn)，有助于解釋超薄切片圖像的
含義。
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