本文標(biāo)題："金屬截面晶粒尺寸測(cè)量其厚度用工具顯微鏡"
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金屬截面晶粒尺寸測(cè)量其厚度用工具顯微鏡
要解決該問(wèn)題，首先要能識(shí)別再結(jié)晶區(qū)的存在。由于再結(jié)晶
區(qū)的組織結(jié)構(gòu)、彈性模量與未發(fā)生再結(jié)晶的區(qū)域有較大的差異，可
能在兩者界面上產(chǎn)生超聲波的反射，從而可利用反射信號(hào)識(shí)別再
結(jié)晶層并測(cè)量其厚度;同時(shí)，兩者晶粒尺寸與組織結(jié)構(gòu)的差異也可
能引起超聲散射信號(hào)的差異，通過(guò)信號(hào)處理識(shí)別再結(jié)晶層的存在。
在可識(shí)別再結(jié)晶層的情況下，一方面要根據(jù)基體和再結(jié)晶層組織
結(jié)構(gòu)特點(diǎn)合理制訂檢測(cè)工藝，得到準(zhǔn)確波形;另一方面，要研究如
何進(jìn)行信號(hào)分析和特征值提取，這兩點(diǎn)是再結(jié)晶層超聲無(wú)損檢測(cè)
的關(guān)鍵所在。檢測(cè)方法的確定主要考慮如何獲得準(zhǔn)確的超聲回波信號(hào)。
對(duì)于具有再結(jié)晶層的葉片，得到的超聲脈沖回波信號(hào)比較
復(fù)雜，不同界面的多次回波互相交錯(cuò)，甚至疊加，帶來(lái)波形識(shí)別上
的困難。為此，首先應(yīng)保證探頭與探傷儀之間的良好匹配，并設(shè)法
獲得聲束寬度很細(xì)的脈沖信號(hào);其次，通過(guò)驅(qū)動(dòng)裝置控制探頭的移
動(dòng)范圍和精度，以便改變聲束焦點(diǎn)的位置，獲得不同深度、不同位
置處的精確回波。
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